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ZA-571A銳科管熔斷時間測試儀電流200A可定制生產(chǎn)廠家智能絲測試儀是一款用于小型熔斷器性能測試的用儀器，用于管熔斷時間、熔斷電流的檢測，
滿足標準G 9364.1-2015 、GB 9364.3-2018相關標準中的熔斷、耐久性試驗要求。
本儀器采用7寸顯示觸摸屏顯示和參數(shù)設置，采用ARM控制器進行控制采集，試驗電流高達200A的試驗設備。
具有操作簡便，智能可靠等特點。
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項目 |
要求及指標 |
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輸入電壓范圍 |
220V±10﹪，50Hz/60Hz |
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測試電流范圍 |
0.5~150A，1﹪RD±0.2﹪fs |
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測試開路電壓精度 |
1﹪RD±0.2﹪fs |
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試驗模式 |
熔斷時間測試 M1和耐久性測試M2 |
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測試時間范圍
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M1 模式時間范圍:10mS--60分鐘 M2 模式時間范圍：10mS--100小時 |
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耐久性時間設置 |
0~99H59M |
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次數(shù)設置 |
0~9999次 |
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時間分辨率 |
10ms |
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測試電流步 |
50mA~1A，可設置 |
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測試電流精度 |
M1 模式< ±0.4﹪SET + 50mA（‘SET’為設置數(shù)值）， M2 模式<±0.5﹪SET + 100mA（‘SET’為設置數(shù)值） |
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測試時間精度 |
M1 模式< ±10mS+0.3﹪RD（‘RD’為實際工作時間數(shù)值）， M2 模式<±10mS+0.5﹪RD（‘RD’為實際工作時間數(shù)值） |
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顯示方式 |
7 寸觸摸屏顯示 |
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控制方式 |
FPGA+ARM 控制 |
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其他 |
支持外接 U 盤拷貝試驗數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)保存功能，免費開放通信接口及提供底層通信協(xié)議 |
信號發(fā)生器生成波形的方式可以大致分為兩種DDS模式和Arb模式。兩種模式都具有優(yōu)缺點。DDS模式具有低成本、低功耗、高分辨率和頻率轉(zhuǎn)換快等優(yōu)點，適合輸出調(diào)頻、調(diào)相、掃頻信號。但是DDS可能會丟失一些數(shù)據(jù)點。另外一種方式就是Arb模式，可以理解為真任意波形發(fā)生器的意思。使用Arb模式可以編輯真實的復雜的任意波形信號。無論是上述兩種方式的哪一種或是一些新推出的其他方式的波形生成方法，采樣（時鐘）速率和分辨率都是非常關鍵的參數(shù)。時間交錯可使用多個相同的ADC（文中雖然僅討論了ADC，但所有原理同樣適用于DAC的時間交錯特性），并以比每一個單數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡單說來，時間交錯（IL）由時間多路復用M個相同的ADC并聯(lián)陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的凈采樣速率fs（采樣周期Ts=1/fs），哪怕陣列中的每一個ADC實際上以較低的速率進行采樣（和轉(zhuǎn)換），即fs/M。舉例而言，通過交錯四個10位/100MSPSADC，理論上可以實現(xiàn)10位/400MSPSADC。 http://qsbdvgn.cn
